Thanh bên bài viết

pdf
Ngày nhận bài: 17/05/2016
Ngày chấp nhận: 10/07/2016
Ngày xuất bản: 22/01/2025
Số lượt xem tóm tắt: 0
Số lượt xem pdf: 1
DOI: https://doi.org/10.58334/vrtc.jtst.n11.10
Số xuất bản
Số 11 (2016)
Chuyên mục
THÔNG TIN KHOA HỌC CÔNG NGHỆ
Trích dẫn bài báo
Đồng, P. K., Nguyễn, P. L., Nguyễn, V. B., Nguyễn, N. H., Lê, Q. N., & Lương, X. T. (2025). HOÀN THIỆN THIẾT KẾ, CHẾ TẠO VÀ ÁP DỤNG THỬ MODUL ĐIỀU KHIỂN, KIỂM SOÁT NHIỆT ĐỘ VÀ MODUL K. Tạp chí Khoa học và Công nghệ nhiệt đới, 11, 86-94. https://doi.org/10.58334/vrtc.jtst.n11.10

HOÀN THIỆN THIẾT KẾ, CHẾ TẠO VÀ ÁP DỤNG THỬ MODUL ĐIỀU KHIỂN, KIỂM SOÁT NHIỆT ĐỘ VÀ MODUL K

Đồng Phạm Khôi1, Nguyễn Phi Long1, Nguyễn Văn Bộ1, Nguyễn Như Hưng1, Lê Quỳnh Ngân1, Lương Xuân Tiến1
1 Viện Độ bền nhiệt đới, Trung tâm Nhiệt đới Việt - Nga

Nội dung chính của bài viết

Tóm tắt

COMPLETE DESIGN, MANUFACTURE AND TEST OF TEMPERATURE CONTROL AND CONNECTION SIGNALS MODULES OF LAVA BAROMETER EQUIPMENT

This paper describes the research process to improve the tropical reliability of temperature control and connection signals modules of LAVA equipment and methods to testthe performance of the modules. The test results show that the modules fully meet all technical requirements and can be used when failure occurs.

Từ khóa

Thiết bị LAVA, độ tin cậy, điều khiển nhiệt độ, kết nối tín hiệu, áp kế

Chi tiết bài viết

Tài liệu tham khảo

1. Đỗ Văn Cẩm, Độ tin cậy của các thiết bị VTĐT, NXBKH&KT, 1985.
2. Nguyễn Văn Lâm, Nghiên cứu chế tạo giá thử kiểm tra sửa chữa thiết bị Lava, Đề tài cấp TCKT, 2013.
3. Nguyễn Phi Long, Nghiên cứu, chế tạo lớp phủ bảo vệ bo mạch điện tử chống lại các tác động có hại của môi trường nhiệt đới, Báo cáo tổng kết đề tài, 2015.
4. Thiết bị LAVA - quy trình kiểm định, QTKĐ 1.019:2013.
5. Association Connecting Electronics Industries, IPC-2221 Generic Standard on Printed Board Design, 1998.
6. Department of defense, MIL-HDBK-217F Reliability prediction of electronic equipment, 1991.
7. Department of defense test method standard, MIL-STD-810G Emvironmental Engineering Considerations And Laboratory Tests, 2008.
8. Fairchild semiconductor, 6-PIN DIP zero-cross phototriac driver optocoupler (600V peak), 2005.
9. Fairchild semiconductor, 6-PIN DIP zero-cross phototriac driver optocoupler (800V peak), 2005.
10. Nippon Chemi-Con Corporation, Conductive Polymer Aluminum Solid Capacitors Application Note, 2009.
11. On Semiconductor, MAC9D, MAC9M, MAC9N Triacs Silicon Bidirectional Thyristors, 2005.
12. STMicroelectronics, BTB20 BW/CW Snubberless Triacs, 2001.
13. Измерительно-вычислительный комплекс ЛАВА Руководство по эксплуатация, 2008.
14. Измерительно-вычислительныйкомплекс ЛАВА Руководство по пользователя, Мскова, 2004.
15. Методы указания Измерительно-вычислительный комплекс ВУЛКАН. Cредства и поверки. ЗД МПЗ 01 00 00 000, 2000.
16. ТУ 6-90 Измерительно-вычислительный комплекс ВУЛКАН. МПЗ 01 00 00 000 ТУ, 2000.